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Dimitrios Damianos. Second harmonic generation (SHG) for contactless characterization of dielectric-semiconductor interfaces. Micro and nanotechnologies/Microelectronics. Université Grenoble Alpes, 2018. English. ⟨NNT : 2018GREAT072⟩. ⟨tel-02015375⟩
Damien Nouguier. Etude statistique et modélisation de la dégradation NBTI pour les technologies CMOS FDSOI et BULK.. Micro et nanotechnologies/Microélectronique. Université Grenoble Alpes, 2018. Français. ⟨NNT : 2018GREAT068⟩. ⟨tel-01997538⟩
D Damianos, G. Vitrant, A. Kaminski-Cachopo, D. Blanc-Pélissier, G. Ghibaudo, et al.. Field-effect passivation of Si by ALD-Al2O3: second harmonic generation monitoring and simulation. Journal of Applied Physics, American Institute of Physics, 2018, 124 (12), pp.125309. ⟨10.1063/1.5041062⟩. ⟨hal-01883529⟩
Jean-Baptiste Henry. Contribution à l'étude expérimentale des résistances d'accès dans les transistors de dimensions deca-nanométrique des technologies CMOS FD-SOI. Micro et nanotechnologies/Microélectronique. Université Grenoble Alpes, 2018. Français. ⟨NNT : 2018GREAT039⟩. ⟨tel-01897472⟩
D. Damianos, G. Vitrant, M. Lei, J. Changala, A. Kaminski-Cachopo, et al.. Second Harmonic Generation characterization of SOI wafers: Impact of layer thickness and interface electric field. Solid-State Electronics, Elsevier, 2018, 143, pp.90 - 96. ⟨10.1016/j.sse.2017.12.006⟩. ⟨hal-01893421⟩