Microcontroller Sensitivity to Fault-Injection Induced by Near-Field Electromagnetic Interference - INRIA - Institut National de Recherche en Informatique et en Automatique Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2019

Microcontroller Sensitivity to Fault-Injection Induced by Near-Field Electromagnetic Interference

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Electromagnétisme
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https://hal.science/hal-02313980

Soumis le : vendredi 11 octobre 2019-16:20:56

Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:53:12

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Dates et versions

hal-02313980 , version 1 (11-10-2019)

Identifiants

  • HAL Id : hal-02313980 , version 1

Citer

Ludovic Claudepierre, Philippe Besnier. Microcontroller Sensitivity to Fault-Injection Induced by Near-Field Electromagnetic Interference. APEMC 2019 - Asia-Pacific International Symposium on Electromagnetic Compatibility, Jun 2019, Sapporo, Japan. pp.1-4. ⟨hal-02313980⟩

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